仔细阅读下面的程序,判断有几处错误。()import android.os.Bundle; public class HelloActivity{ public void onCreate(Bundle savedInstanceState){ super.onCreate(savedInstanceState); setContentView(R.layout.xx); } }()
A.1
B.2
C.3
D.4
A.1
B.2
C.3
D.4
以下程序的功能是求两个非0整数相除的商和余数。程序有几处错误,试找出它们加以修改,并上机验证修改结果。 #include "iostream" using namespace std; int main() {int x,y,r1,r2; cin>>x>>y; if(x=0||y=0) cout<<”input else { if(x> y) r1=x/y; r2=x%y; else r1=y/x; r2=y%x; } cout<<”商=> <<” 余数="”<"> < <endl; system("pause"); return 0;>
y为整数),这些函数能够当作散列函数吗(即对于插入和查找,散列程序能正常工作吗)?如果能够,它是一个好的散列函数吗?请说明理由。设函数random(m)返回一个0到m-1之间的随机整数(包括0与m-1在内)。
(1)Hash(key)==key/m;
(2)Hash(key)=1;
(3)IIash(key)==(key+random(m))%rn;
(4)Hash(key)=key%p(m);其中p(m)是不大于m的最大素数。
使用下面的方法编写一个方法,统计一个字符串中包含字母的个数。
编写测试程序调用countLetters("Beijing2022")方法并显示它的返回值7。
A.O(1)
B.O(m+n)
C.O(log2mn)
D.O(m*n)
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
本诗可分几层?简述各层含义。