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[单选题]
顶针印作为FCDA的killerdefect,其标准是()
A.允许轻微印记
B.只检测,没有标准
C.不允许有
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A.允许轻微印记
B.只检测,没有标准
C.不允许有
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
缓慢打开出入口阀门,打开罗茨流量计顶部()排除壳体内的气体。
A.阀门
B.旁通
C.丝堵
D.顶针