TZS-R试块法:调整仪器,使第1次底面回波高度达到荧光屏垂直刻度满幅的80%,增益30dB,称为基准波高。在此基础上,增益()(耦合差0dB~4dB、钢印2dB~4dB、中心孔3dB、螺栓孔3dB),作为透声检查灵敏度。
A.12dB~18dB
B.8dB~18dB
C.8dB~14dB
D.22dB~28dB
A.200
B.220
C.240
D.250
TS-3试块法:适当改变测量范围,调节仪器,使TS-3标准试块Φ()mm平底孔第1次回波高度达到荧光屏垂直刻度满幅的20%,称为基准波高。在此基础上增益8dB~14dB(耦合差0dB~4dB、钢印2dB~4dB、中心孔3dB、螺栓孔3dB)作为透声检查的灵敏度。然后将测量范围恢复至2400mm。
A.3.0
B.3.2
C.4.0
D.4.5
A.水
B.轴承脂
C.甘油
D.皂化油
A.TS-1型
B.DB-PZ20-2型
C.DB-H1
D.DB-H4
A.不大于2dB
B.大于2dB
C.等于2dB
D.大小于2dB
A.采用当量试块比较法测定的结果
B.对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果
C.根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D.缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同
A.A=2X1-X2
B.A=2X2-X1
C.A=X1-2X2
D.A=X2-2X1
A.Φ1.2-25mm
B.Φ1.2-30mm
C.Φ1.2-40mm
D.Φ1.2-50mm