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第4题
关于上芯顶针痕迹监控项目，描述错误的有：（)。
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
第11题
：任何目标都必须是实际的、可衡量的，不能只是停留在口号或空话上，制定目标的目的是为了进步。不去衡量，你就无法知道自己是否取得了进步，所以你必须把抽象的，无法实施的、不可衡量的大目标简化成为实际的、可衡量的小目标。这段话的核心意思是： （）。
A.制定目标后必须付诸实施
B.没有小目标就没有大目标
C.小目标才有实际意义
D.目标要能衡量、可实施
