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第2题
关于上芯顶针痕迹监控项目，描述错误的有：（)。
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
第5题
下列属于真空预压施工中的不正常现象的是()。
A.加固过程中地表出现裂缝
B.前40天沉降速度达到后20天的5倍
C.真空度迟迟不能接近预期值，或出现反复
D.抽真空结束后，场地形成四周高，中间低的盆状地形
第7题
映雪公司20X5年12月25日以市场价格1000万元(不含增值税)购买了设备一台，预计使用年限为10年，预计净残值为零。会计处理时按照年限平均法计提折旧，但计税时按照税法提供的税收优惠政策采用了按双倍余额递减法计提折旧，税法和会计估计的预计使用年限、净残值相等。20X7年12月31日，映雪公司计提了年度折旧后，对该项设备进行了减值测试并计提了180万元固定资产减值准备。20X7年12月31日，该项固定资产的计税基础为()万元。
A.640
B.620
C.180
D.0
