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题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈（），缺陷回波愈高。

A.强

B.弱

C.大

D.小

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更多“缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈（…”相关的问题

第1题

斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（)。

A.没有底面回波

B.有底面回波

C.有大型缺陷回波，底面回波消失

D.缺陷回波和底面回波同时存在

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第2题

底波高度法经常作为缺陷回波法的一种辅助手段。（)

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第3题

对于小于声束截面的缺陷不可用（）来评定其大小。

A.当量法

B.缺陷回波高度法

C.底面回波高度法

D.延伸度定量评定法

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第4题

面积小于声束截面的缺陷大小一般用（）评定。

A.回波高度法

B.F/B法

C.当量法

D.延伸长度法

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第5题

面积大于声束截面的缺陷大小一般用（）评定。

A.回波高度法

B.F/B法

C.当量法

D.延伸长度法

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第6题

对焊缝中与声束成一定角度的缺陷,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收。（)

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第7题

一工件厚度为350mm，用2MHz直探头发现在距探测面200mm处有一缺陷回波，比底波低24DB，此缺陷相当于()当量直径的平底孔(钢C1=5900m/s)。

A.7mm 　　

B.6mm 　　

C.5mm 　　

D.3.7mm 　　

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第8题

来自缺陷本身而影响缺陷回波高度的因素包括：①();②();③();④();⑤();⑥()等。

来自缺陷本身而影响缺陷回波高度的因素包括：①（);②（);③（);④（);⑤（);⑥（)等。

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第9题

时基器产生的时基线是用来测定（)的

A.缺陷位置

B.回波时间

C.回波高度

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第10题

缺陷本身的开隙度,取向,表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响。（)

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第11题

超声波探伤，根据底面回波的高度变化，判断试件缺陷情况的方法，称为()。

超声波探伤，根据底面回波的高度变化，判断试件缺陷情况的方法，称为（)。

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