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[主观题]

某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏

某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏压的pn结附近),试求此时电子—空穴的产生率是多大(设ni=1.5×1010cm-3)?

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第1题
对于N型半导体,当掺杂浓度提高时,费米能级分别向()移动;对于P型半导体,当温度升高时,费米能级向()移动。
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第2题
元素半导体可分为本征半导体和掺杂半导体,后者又分为n£­型半导体和p£­型半导体。()
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第3题
关于杂质半导体中的载流子浓度说法正确的是()。

A.多数载流子基本上由掺杂形成,所以多子浓度接近掺杂浓度

B.少数载流子由本征激发形成

C.多子浓度远大于少子浓度

D.若在一块半导体材料中同时掺入施主杂质和受主杂质,则产生杂质补偿作用,杂质半导体的特性由掺杂浓度高的杂质所决定

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第4题
()不是集电极的特点。

A.面积较大

B.收集载流子

C.与发射极是同类型的杂质半导体

D.掺杂浓度高

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第5题
()不是发射极的特点。

A.面枳较大

B.发射载流子

C.与集电极是同类型的杂质半导体

D.掺杂浓度高

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第6题
在杂质半导体中多数载流子的浓度主要取决于()。

A.温度

B.掺杂工艺

C.杂质液度和体积

D.晶体缺陥和大小

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第7题
当硅中掺杂以施主杂质(v族元素:磷、砷、锑等)为主时,以()导电为主,成为N型硅;当硅中掺杂以受主杂质(Ⅲ族元素:硼、铝、镓等)为主时,以()导电为主,成为P型硅。
当硅中掺杂以施主杂质(v族元素:磷、砷、锑等)为主时,以()导电为主,成为N型硅;当硅中掺杂以受主杂质(Ⅲ族元素:硼、铝、镓等)为主时,以()导电为主,成为P型硅。

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第8题
计算含有施主杂质浓度为ND=9x1015cm-3,及受主杂质浓度为1. 1x1016cm3,的硅在33K时的电子和空穴浓度以及费米能级的位置。

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第9题
说出半导体工艺中掺杂的作用,举出两种掺杂方法,并比较其优缺点。
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第10题
计算含有施主杂质浓度ND=9X 1015cm3及受主杂质浓度为1.1 X 1016cm-3的硅在300k时的电子和空穴浓度以及费米能级的位置。

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第11题
N型半导体的形成是在本征半导体中掺入()。

A.三价元素

B.四价元素

C.五价元素

D.硅和锗

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