题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏
某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏压的pn结附近),试求此时电子—空穴的产生率是多大(设ni=1.5×1010cm-3)?
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某n型半导体硅,其掺杂浓度ND=1015cm-3,少子寿命τp=5μs,若由于外界作用,使其少数载流子全部被清除(如反向偏压的pn结附近),试求此时电子—空穴的产生率是多大(设ni=1.5×1010cm-3)?
A.多数载流子基本上由掺杂形成,所以多子浓度接近掺杂浓度
B.少数载流子由本征激发形成
C.多子浓度远大于少子浓度
D.若在一块半导体材料中同时掺入施主杂质和受主杂质,则产生杂质补偿作用,杂质半导体的特性由掺杂浓度高的杂质所决定