A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
A、40MI
B、100MI
C、150MI
D、250MIC
A.编辑活动是生产精神产品的活动
B.编辑活动是为知识传播创造条件的活动
C.编辑活动是对已有作品进行风格、观点和文字修改加工的活动,具有创造性
D.编辑活动是按照一定的方针、原则以及规划进行的有目的的活动