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[主观题]

如何进行芯片的电学测试?电学测试一般用于核定待测系统或元件整体电学性能是否满足要求,有时也对局部电学参数进行检测,检测项目包括电压、电流、阻抗、电场、磁场、EDM、相应时间等。具体到微电子器件,电学测试包括探测芯片上、芯片与互连之间、芯片与电路板互连之间的短路、开路、参数漂移、电阻变化或其他不正常的电学行为。电学测试的类型包括集成电路功能和参数测试、阻抗、连接性、表面电阻、接触电阻和电容等。

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第1题
气中的一个小尘埃将影响整个芯片的()性、()率,并影响其电学性能和()性,所以半导体芯片制造工艺需在超净厂房内进行。
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第2题
()可以将外力转换成电阻的变化,进而可以方便地用电学测试系统间接探测外力变化。

A.压阻式传感器

B.电容式传感器

C.基于微视觉的触觉传感器

D.滑觉传感器

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第3题
空气中的一个小尘埃将影响整个芯片的()、(),并影响其电学性能和可靠性,所以半导体芯片制造工艺需在超净厂房内进行。
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第4题
施工前光缆应根据产品质量检验合格证和测试记录审核光纤的几何、()和传输特性及机械物理性能是否

施工前光缆应根据产品质量检验合格证和测试记录审核光纤的几何、()和传输特性及机械物理性能是否符合设计要求。

A.光学

B.电学

C.长度

D.规格

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第5题
施工前光缆应根据产品质量检验合格证和测试纪录审核光纤的几何、()性及机械物理性能是否符合设计

施工前光缆应根据产品质量检验合格证和测试纪录审核光纤的几何、()性及机械物理性能是否符合设计要求。

A.光学

B.电学

C.长度

D.规格

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第6题
关于传感器工作的一般流程,下列说法中正确的是()

A.非电学量→敏感元件→转换电路→电学量→转换元件

B.电学量→敏感元件→转换电路→转换元件→非电学量

C.非电学量→敏感元件→转换元件→转换电路→电学量

D.非电学量→转换电路→转换元件→敏感元件→电学量

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第7题
有N个样本,一般用于训练,一般用于测试。若增大N值,则训练误差和测试误差之间的差距会如何变化()。

A.增大

B.减小

C.无法确定

D.无明显变化

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第8题
关于传感器的作用,下列说法正确的是()。

A.通常的传感器可以直接用来进行自动控制

B.传感器可以将感受到的一些信息转换为电学量

C.传感器可以将所有感受到的信息都转换为电学量

D.以上说法均不正确

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第9题
入侵探测器对现场进行监测时的两种基本原理是()。

A. 光学原理、磁学原理

B. B.主动探测、被动探测

C. C.电学原理、声学技术

D. D.红外技术、微波技术

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第10题
体外冲击波疗法具有()特性

A.声学、电学

B.力学、声学

C.光学、电学

D.热学、电学

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第11题
为了获得好的性能,塑封料的电学性能必须得到控制。()
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