A.教学理论偏失
B.教学态度不端正
C.教学评价不当
D.教学行为失范
A.放置薄片时,盖玻璃应该朝上放置
B.更换不同放大倍数时,可用手直接扭动各个物镜
C.使用上偏光镜及勃氏镜时,应该轻拉轻推,以免震坏
D.显微镜长时间不用时,应将亮度调到最小或者直接关闭电源
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取