A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
A.按照维修手册给定的值给装置施加真空。
B.按发动机维修手册中规定的不同转速运行发动机时,检查点火正时。
C.给装置施加真空并观察断电器底板的工作情况。
D.给装置施加真空并观察装置是否能在一段时间内保持真空。
锚杆的抗拔力、合格品应符合不小于设计值的()的规定。
A.70%
B.80%
C.90%
D.85%
A.3.0
B.4.0
C.5.0
D.6.0
A.2000元
B.2900元
C.1100元
D.1400元