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题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

火花直读光谱仪.X荧光光谱仪.ICP光谱仪.721分光光度计的分光装置分别是（）

A.光栅.棱镜.晶体.光栅

B.光栅.晶体.光栅.棱镜

C.晶体.光栅.棱镜.光栅

D.晶体.光栅.光栅.棱镜

答案

B、光栅.晶体.光栅.棱镜

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更多“火花直读光谱仪.X荧光光谱仪.ICP光谱仪.721分光光度计…”相关的问题

第1题

目前常用于进行光谱采集的设备是（）

A.单色仪

B.光栅光谱仪

C.X射线仪

D.光电倍增探测器

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第2题

扫描成像依靠探测元件和扫描镜对目标地物以瞬时视场为单位进行逐点或逐行取样，得到目标地物电磁辐射特性信息，形成一定谱段的图像，常用的扫描成像仪器有（）。

A.多光谱扫描仪

B.成像光谱仪

C.荧光仪

D.摄影机

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第3题

X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（).

A.部分元素的含量

B.全部元素的含量

C.矿物含量

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第4题

常见的能量色散型X荧光光谱仪有哪些组成部分（）

A.X射线管球

B.检测器

C.波形分析器

D.准直器

E.计算机处理系统

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第5题

1969年——美国海军实验室研制出世界上第一台能量色散X荧光光谱仪；之后，X射线荧光分析技术用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。（）

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第6题

质检处X荧光光谱仪分析用的样盒选择的样品面罩要与样品直径相适宜我们采用的直径一般是（）

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第7题

在现场到货开箱之后或安装调试阶段检测。建议采用（）进行箱体厚度测量。

A.超声波测厚仪

B.便携式光谱仪

C.X射线荧光镀层检测仪

D.涂层测厚仪

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第8题

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。（)

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第9题

用X射线荧光光谱仪对变电站密闭箱体和隔离开关轴销304不锈钢光谱分析时，判断材质是否符合要求应重点关注（）元素。

A.Si

B.Cr

C.Ni

D.Mn

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第10题

提拉法合成的变石与变石较难区分，但前者不含水，后者常含微量水，用以下那种仪器可区分？（)。

A.红外光谱仪

B.电子探针

C.X射线荧光分析仪

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第11题

ICP光谱仪常用的检测器有（）、（）两种。

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