题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
有一测量显微镜,放大率Γ=-100x,物体位于物镜前15mm处;若物镜放大倍率β=-10x,数值孔径NA=0.2,物镜的通光口径
有一测量显微镜,放大率Γ=-100x,物体位于物镜前15mm处;若物镜放大倍率β=-10x,数值孔径NA=0.2,物镜的通光口径为10mm,试求:
查看答案
如果结果不匹配,请 联系老师 获取答案
有一测量显微镜,放大率Γ=-100x,物体位于物镜前15mm处;若物镜放大倍率β=-10x,数值孔径NA=0.2,物镜的通光口径为10mm,试求:
A.锡残留
B.最小的
C.200X及以上
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取